Los últimos avances en requisitos de seguridad y confiabilidad ocupan un lugar central en el Foro de alta confiabilidad del IPC

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La confiabilidad crítica de las prótesis electrónicas en el cerebro para ayudar a restaurar el movimiento de una mano paralizada, mejorar la durabilidad de la infraestructura automotriz de los vehículos eléctricos, los criterios de prueba y los desafíos de trabajar con materiales sin plomo y la evaluación de la confiabilidad y la capacidad de mantenimiento de estructuras aéreas seguras son solo algunos de los temas de la agenda ofrecidos en el Foro de Alta Confiabilidad del IPC del 17 al 19 de octubre en Linthicum (Baltimore), Md.

Los temas de la presentación incluyen: consideraciones electrónicas críticas para la seguridad; aplicaciones militares, aeroespaciales, médicas, automotrices, de movilidad eléctrica y otras con requisitos de confiabilidad especializados; y otros relacionados con cuestiones de alta confiabilidad en el diseño de PCB, materiales de fabricación de PCB, ensamblaje de PCB, confiabilidad de la superficie de PCBA, tecnologías electrónicas emergentes, estrategias de mitigación y métodos de prueba.

Los oradores de las siguientes compañías incluyen: Ed Reynolds, Laboratorio de Física Aplicada de la Universidad John Hopkins (discurso inaugural); Cynthia A. Chestek, Ph.D., Universidad de Michigan; Raymond Zhao, Ph.D., Corporación de Sistemas Northrop Grumman; Leslie Kim, Soluciones Electrónicas MacDermid Alpha; Brian O'Leary, Corporación Indium; Teresa Campobasso, Exiger; William Capen, Honeywell; y Denis Barbini, Ph.D., Zestron. Vea la lista completa de oradores.

“El evento brinda una oportunidad única para aquellos en la industria que diseñan, fabrican o prueban productos electrónicos para aplicaciones críticas con requisitos únicos de seguridad, confiabilidad y vida útil para conocer los últimos avances, participar en debates de la industria y establecer contactos con una comunidad respetada de profesionales que se centran en la electrónica de alta confiabilidad”, dijo Bhanu Sood Ph.D., Centro de Vuelo Espacial Goddard de la NASA y copresidente del Programa Técnico del Foro de Alta Confiabilidad. "Y este año, el panel técnico es más fuerte que nunca, con contenido completo y curado por la industria centrado en electrónica con requisitos de alta confiabilidad".

Para obtener más información sobre el Foro de Alta Confiabilidad del IPC, incluida la agenda, perfiles de los oradores, información sobre exposiciones y patrocinio, o para registrarse en el evento, visite www.ipc.org/event/high-reliability-forum.